蔡司X射线光学显微镜XradiaVersa中有哪些特点

 　　在XradiaVersa、Xradia810Ultra和FIB-SEM光学显微镜中间，应用Atlas5(查看更多)开展关系和导航栏。

　　实时观查腐蚀过程

　　将AZ31压铸铝试品(1毫米x1mm)放进0.1mol/L的NaCl水溶液中，并放置蔡司X射线光学显微镜XradiaVersa中，应用1um的体素、2钟头一次的扫描仪速率对试品开展原点显像。当在扫描结果中发觉腐蚀早已从表层及近表层蔓延到原材料內部的构造时，将试品从水溶液中取下，并且用纯净水对试品开展清洗，终止腐蚀过程。

　　从图2这种扫描仪图象中能够 见到，在逐渐的好多个钟头，试品表层发生了普遍的点腐蚀(如图所示2a和6b所显示)，伴随着时间流逝，这种点腐蚀持续蔓延，遮盖大量的表层。这种产生在表层及其近表层的原始损伤是腐蚀的*阶段。

　　14钟头以后，试品表层的损伤增长速度迟缓，可是腐蚀逐渐向原材料內部蔓延，腐蚀进到第二阶段。从图2c和2d中，能够 观查到亚表层的原材料损伤，而且腐蚀损伤不仅从表层向原材料內部拓展，也有许多近表层的密度*的遍布的金属材料间进行析出相做为负极在产生腐蚀反映。

　　图2：在原点XradiaVersa中试品不一样腐蚀時间显像結果a)两小时后，b)八小时后，c)14小时后，d)14小时后的內部剖面图，深蓝色箭头符号所说是亚表层损伤，红色箭头是密度*的地区

　　数据信息联用，*定位腐蚀地区

　　为了更好地获得大量腐蚀的关键点，必须进一步选择更*的子样开展纳米定性分析。

　　将腐蚀试品放进蔡司聚焦点电子束光学显微镜(FIB-SEM)中，用蔡司Atlas5光学显微镜联用手机软件将XradiaVersa的2D原点数据信息导进并配对，*定位到腐蚀比较比较严重的地区(如图所示3a的白圈所显示)。

　　在这个总体目标部位上，用FIB-SEM的lift-out方式 取下一个尺寸约为50×50×80um尺寸的子样，放进蔡司Xradia810Ultra中，用150nm的体素开展观查，视线65um。