蔡司ROTOS粗糙度传感器让效率提升百分之88

 　蔡司ROTOS传感器可以在一台机器上检查尺寸，形状和位置公差以及粗糙度参数。现在可以在ZEISS PRISMO和ZEISS CenterMax三坐标测量机(CMM)上执行这些操作，而不再需要单独的测针仪来捕捉更大的形状偏差。使用CMM探针上的接口可以轻松地根据需要更换传感器。根据测量机器和特定的测针，用户可以使用新传感器捕获高达0.03 μm的Ra粗糙度值。

　　创新的蔡司ROTOS设计可检查几乎所有工件特征。三个可旋转的多个测针臂，使得可以测量深孔和难以到达的表面;蔡司ROTOS的开销测量也不是问题。新功能包括用于测量密封面上的粗糙度和波纹度的防滑撬针。由于ZEISS ROTOS已完全集成到Zeiss CALYPSO测量软件中，并且可以在定制的专业显示器中对表面粗糙度进行分析和可视化，并在ZEISS PiWeb报告软件中显示尺寸，形状和位置，因此对表面参数进行编程非常容易。