ZEISS给我们提供了一种摆脱困境的方法，这就是具有特制的金刚石涂层的Diamond!Scan测针。它的优点是什么?根本无需对测针针尖进行检查和清洗!原因是不会有材料残留在球的表面，也不会有磨损的产生。
即便使用拥有较合适探针系统的高性能
测量机，质量保证也可能成为一个瓶颈。一个可能的原因是，在加载工件时，坐标测量机总是要停几分钟的时间。不管是一系列的手机外壳或传感器，都可能需要几分钟的时间进行加载，特别是需要在同一时间安装多个工件时。当测量不同的工件，需要操作者频繁更换夹具时，也会花费大量的时间和精力。“当测量机正在测量时，操作者可以将下一组工件放到测量机外部的托盘上。这样完成以后，就很容易将托盘装载到机器上。”我们可以在几秒钟之内正确地定位托盘，不需要进行校准。
比如：通过使用托盘，操作者可以节省由于每次夹具更换而需要装载和校准产生的大约15分钟的时间。如果假设测量、装载和/或校准使用相同的时间，那么每台使用托盘的测量机可以测量的工件有两倍之多。校准托盘可以节省更多的时间甚至是在第一次测量之前也可以节省大量时间。在这些托盘上，有一个带球的固定的标准球球座，如果需要，可以配备环规和玻璃校准器。要进行校准时，操作者只需将托盘放置到机器上，然后启动测量程序即可。因为所有的校准仪器是托盘的一部分，只需几分钟就可以清除这些辅助工具。
除了使用托盘，要认真考虑工件的装卡方法。“使用标准夹具进行测量时可以提高检测效率，同时可以大量节省筹备阶段的夹具设计和生成测量程序的时间。”
由于框架设计中，工件被固定在金属框架上，因此在这种结构设计中的夹具比立柱式测量更利于执行难度更大的测量。框架安装在立柱上，反过来这些再固定在一个基板上。而使用传统的设备，用于安装工件的每个元器件通常都是在其自己的立柱上。这些立柱限制了测针接近工件的能力。对于水平夹紧和垂直夹紧也是如此。测量程序需要考虑此因素。而在新的这种框架结构中通过进行对比，可以从各个侧面方便地接近工件，因此不仅加快了测量程序的开发，还减少了测量时间的投入。该框架结构还有一个好处：因为夹紧原理所具有的优势，基板和四个立柱不会改变，所以可以为不同的工件类型设计相似的夹具。这类夹具是相对统一的，并为操作者在很大程度上提供规范测针和测量程序的机会。这样操作者就会更快地使用这些工具。
集成在托盘中的温度传感器会带来更大效益。在测量开始时，它自动捕获工件温度，并将此信息传递给测量机。“操作员不再需要手动加载传感器或使用温度测针，这是提高系列测量效率的一个重要因素。让我们以一个八小时轮班制为例。假设一个测量周期需要15分钟，其中包括一分钟的温度测量，那么总共可以节省半个多小时的时间。
夹具安装在一个金属框架上，也就是说测针可以方便地接近工件，也更容易生成测量程序。
如果使用托盘中的集成温度传感器自动捕获工件温度，对于公司每八个小时轮班，可以节省半小时。
硬件并不是唯一影响测量时间的因素，软件也起着重要作用。举例说明：测针扫描工件并触及到表面上的凹部。在这一点上，典型的程序将是垂直向上移动并穿过此空间，然后在该空间的另一侧的下一个特征处垂直向下移动。使用ZEISS VAST Performance性能软件包的“FlyScan”功能，不必要进行“向上、进一步前移、向下”这种迂回，相反，测针直接在空间上移动，并继续另一侧的扫描，不会出现任何中断。但软件还是会评价、计算正确的测量点据Schwab估计，这个过程可以减少应用程序高达70％的测量时间，如齿轮的齿顶圆测量。QuickChange是另外一个软件功能，可以使测针更换速度再快一倍。
使用这些软件功能，需要ZEISS原装的探针吸盘。这种吸盘的另一个优点就是，该软件可通过一个芯片识别所使用的测针系统。例如，如果使用了错误的测针系统配置，它也可以识别出该错误并通知操作者。特别是当需要选择10或20种测针系统时，这有很大的帮助。
为了较大限度地减少测针与工件之间发生昂贵和费时的碰撞风险，组装探针使用的角度调整装置蔡司的FixAssistXXT 和 FixAssist VAST设置装置能够使测量工程师在组装测针系统时事半功倍，更容易、更快速组装探针系统。它们不只是防止碰撞。因为测针系统不必在机器上再进行调整，因此还降低了坐标测量机的停机时间。操作员也可以构造更复杂的测针系统，从而在每个测量程序中测量更多的特性。这是另一个提高效率的方法。
使用FixAssist探针调整设备，测量工程师可以快速、精确的进行探针调整、组装。更高的精度降低了碰撞的风险。同时设置更复杂的测针系统，意味着每个测量过程可能测量更多的特征。
所有这些技巧都可以节省时间，而且使用所有七个将有助于大大提高利用率。也就是说对高品质测量设备的投资，使用合适的测针，会有更快速的回报。原因很简单：“如果使用廉价的木轮制造赛车去比赛，比赛的失利，你根本用不着感到惊讶。”
特别是蔡司‘FlyScan’等软件选项可以减少一半的测量时间。这些选项可以使测针在扫描过程中快速地在表面上的空间移动。
