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蔡司三坐标新闻

蔡司三坐标ACCURA测量机 3C制品测量解决方案

日期: 2018-11-30 15:55:07
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   随着3C行业的持续上升势头,催生出了对玻璃制品的测量需求。以iPhone为例,其全新一代就采用了全玻璃机身设计,而3D曲面玻璃是否能在采用非接触式测量的同时,兼顾满足高效率、高精度、低成本、全尺寸测量等四个基本原则?作为工业测量届的巨头,蔡司三坐标一直致力于研发工业测量前沿技术,满足各制造企业的测量需求,3C行业也不例外。

  蔡司工业测量带来智能手机三坐标检测方案、电极检测自动化方案等多个解决方案。

  ZEISS智能手机检测方案ACCURA

  1.智能手机检测方案:由ZEISS智能手机检测方案ACCURA 9/16/8 DotScan领衔主演,精彩演绎。该方案能对高精度工件、透明材料、柔软工件提供完善测量,其光学测量与接触式测头无缝集成,可提供交互式图形分析报告,直观反映机床加工状态。该方案能够实现低测力高精度扫描、DotScan共聚焦白光扫描测头、RDS CAA 光学测量与接触式测量无缝集成、可配合转台实现四轴联动高精度测量等优点。

  2.电极检测自动化方案:如何正确打开电极的自动化检测方式?——除了可以无疑集成到生产线的自动化检测设备,你还可以在实验室组成自动化检测单元随时“待命”。其测量结果及数据能够自动保存,无缝对接到MES系统,实现加工和检测信息和数据的实时传输和反馈。

  譬如,ZEISS CONTURA 7/10/6 RDS可以与加工中心同步放置、优化测量节拍;对易于变形零件提供完善的测量解决方案;CAD模型自动取点,生成测量程序,大大减少编程时间;提供交互式图形分析报告,自动生成机床刀具预调路径。

  3. 多功能复合测量方案:ZEISS O-INSPECT集蔡司高精度接触式扫描技术及好光学性能于一体,可以针对复杂的三维工件,仅需一台设备,即可实现多台测量设备的功能。同时具备可选转台系统、白光传感器、上下料托盘系统、自动式库位架等。配合转台及白光测头实现3D玻璃或高亮工件的非接触测量。

  此外,蔡司光学家族中的经典系列COMET L3D 2、T-SCAN也将悉数亮相,便携的光学扫描测量也将带您置身一个新视界。

  能够实现锥束X射线断层扫描与三坐标测量机技术出色融合的CT无损测量方案,兼具高精度与多功能的特点;快速采集零件三维几何形状和完整三维表面数据的三维光学扫描检测系统;仅需一个按钮、即能快速测量并保证可重复性结果的一键式高效测量方案;已经成为所有测量机标准配置的智慧软件方案等。

       蔡司三坐标ACCURA测量机3C制品测量解决方案采用光学测量与接触式测量无缝集成,高精度搞准确性高效率的优点,让3C制造企业大大提高了生成效率和品质保证。更多蔡司三坐标问题欢迎来电咨询昆山友硕。

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