X 射线计算机断层扫描越来越多地用于工业尺寸计量。产品的复杂性和多样性,加上生产和产品开发对成本和时间效率解决方案的要求,给测试产品和产品质量带来了新的挑战。
工业CT是一种强大的无损技术,可以在3D体积内测量和表征物体的内部和外部结构,以计算表面和特征的各种参数。与形状复杂性不同,基于 CT 生成的高密度 3D 点云体积,可以进行任何传统的测量。
包括 GD&T 尺寸测量和位置公差,例如平行度、垂直度、同心度...无损和非接触测试允许检查多个工业部件。在大多数情况下,蔡司工业 CT 已成为识别和检查复杂零件或组件的基础技术。
壁厚是工业设计师必须解决的众多测量问题之一。大多数工业部件,包括管道、瓶子、药丸和涡轮叶片,都按壁厚指定,以确保预期的机械强度和重量。通过测量 CT 扫描生成的 3D 体积,可以很容易地观察材料的厚度。
结果使用颜色代码显示,显示厚度超过给定公差的区域,并提供最小、最大、平均值或标准偏差。壁厚分析完成样品的表征,提供易于观察计算的 3D 彩色视图和横截面壁厚测量。
工业 CT 计算机断层扫描是一种强大的无损检测技术,可以检测各种可能性的复杂组件和材料。 CT是一种基于非破坏性方法提供检测结果的简单有效的方法。
它通过重建完整的 3D 模型来生成重要数据并观察内部特征。工业 CT 可用于执行各种应用,从传统的工业分析(例如过程缺陷检测样品(空隙、裂纹、气孔、夹杂物)到测量任务,如外部尺寸测量和复杂几何形状的内部特征。
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